WinCal XEソフトウェア
WinCal XE
関連資料
- WinCal XE Specification Sheet
- Connecting WinCal XE 4.5 to a VNA with VISA options
- Making Accurate and Reliable 4-port On-Wafer Measurement
- A High Isolation Dual Signal Probe Technology
- Solve complexity issues in 4-port RF designs
- Optimized Impedance Standard Substrate Designs for Dual and Differential Applications
- A Hybrid Probe-Tip Calibration for Multiport Vector Network Analyzers
- Validation of On-Wafer Vector Network Analyzer Systems
- VNA Calset Port Augmentation for Impedance Matching Probe Calibration
- WinCalXEクィック・スタート・ガイド
- RFプローブCalキットの入力方法(Agilent PNA Fimware Rev.A.03.xx)
- RFプローブCalキットの入力方法(Agilent8510)
- RFプローブCalキットの入力方法(Agilent8720)
- WinCal XEポストプロセシング
関連サイト
迅速で正確なSパラメータ測定とVNA校正を実現するWinCal XE™ソフトウェア
WinCalXE校正ソフトウェアは、正確なデバイス特性評価や、モデリングやプロセスの品質向上に必要な、精度と再現性の高いSパラメータを提供し、高性能デバイス製造のコストと市場投入にかかる時間を削減します。使いやすいウィザードやチュートリアル機能により、測定システムのセットアップ、測定、データ検証やレポート作成などのプロセスを自動化します。最新のWinCalXE 4.5は、SussCalの利点を統合し、カスケード･マイクロテック社と旧ズース･マイクロテック社のプローバのどちらでも使用可能です。
WinCal XE 4.5の新機能
- LRRMやLRM+など、豊富な校正アルゴリズムを提供
- Infinity、ACP、|Z|プローブ、インピーダンス基準基板（ISS）とCSR校正基板をサポート
- ProberBenchとNucleusプローバ・コントロール・ソフトウェアの両方をサポート
