DCP100シリーズ・プローブホルダはオン・ウェーハでのプロセス/デバイス・キャラクタライゼーションや信頼性テストに必要な測定精度を提供します。優れたガード/シールド機構により、非同軸構造のプローブでは実現不可能な性能を実現しています。

特長

• 高精度の構造により、ローノイズを実現
• ４端子測定用のケルビン・バージョン
• チップ先端径を選択可能
• SSMC ５０コネクタ
• 交換可能なプローブ・チップ

利点

• －６５℃～１５０℃でのｆA、ｆFレベルの測定を実現
• プローブ・チップ先端まで電気的にガード
• カスケード・マイクロテックのトータル測定ソリューションの一部として最適化
• 高い再現性と安定性と安定性