プローブ・カード

KGD(Known Good Die)の提供
マルチチップモジュールでのパッケージやモジュールの損失を低減
歩留まりを向上し、ガードバンドを小さくする事が可能
高価なパッケージを必要とせず、ウェーハレベルでのテストが可能
すぐれた電気的性能
狭ピッチに対応
クリーニングが容易

Probe Cards		RF Filter/Switches	RF Wireless	SiP/SoC	DC Parametric	DC/RF Parametric
	P30
	P100
	P300
	P400
	P500
	P800
	PDC50
	PRF50

ピラミッド･プローブ･カードの構造

カスケード・マイクロテック社ピラミッド・プローブは高速デバイス、高周波デバイスの製品テストやデバイス設計過程で多くの利点をもたらします。低インダクタンス・グランド・コンタクト、ダイに近い低インピーダンス・バイパス・キャパシタ、制御されたインピーダンス信号線の優れた電気的性能は、ウェーハ・レベルの完全な性能テストを実現可能にします。 [詳細]

Pyramid-MW Probe Card

Pyramid-MWは、57GHz～81GHzを含むミリ波帯RFICの製造テストを可能とするプローブ･カードです。フォトリソグラフィーで作られたチップで低い接触抵抗パッドにコンタクトし、メンテナンス回数を少なくすることで、製造コストの低減に貢献します。 [詳細]

RF P-Series Pyramid Probe Cards

RF Pシリーズのピラミッド･プローブは、RF/マイクロ波デバイスの製造に必要な優れたシグナル・インテグリティを提供します。ピラミッド・プローブは、RF信号の優れたシグナル・インテグリティを提供するとともに、Cost of Ownershipの低減にも貢献します。 [詳細]

P30 RF Pyramid Probe Cards

P30 RFピラミッド･プローブは、ペリフェラル配置のパッド、50ΩのRFラインとDCコントロール・ラインに対応する、同軸RFプローブ･カードの置き換えとなる製品です。適応アプリケーションは、携帯電話、基地局などに使用されるRFフィルターやスイッチとなります。 [詳細]

SiP/SoC P-Series Pyramid Probe Cards

SiP/SoC Pシリーズのピラミッド･プローブは、Multi－DUT能力、経年変化の無い針位置、優れた電気的性能、長いコンタクトライフにより、スループットの向上、メンテナンス・コストの低減、歩留りの向上に貢献し、Cost of Ownershipを低減します。SiP/SoC Pシリーズは、ボンドパッド、フリップチップ･バンプどちらにも適用可能で、大規模なICのAt-speedテストを実現します。 [詳細]

PDC50 DC Parametric Pyramid Probe Cards

PDC50 DCパラメトリック・ピラミッド・プローブは、Agilent Technologies社の4070/4080シリーズと、Keithley社のS600シリーズに対応するプローブ･カードです。 [詳細]

Pyramid Accel Test Program Debug Fixture

Pyramid Accelテストプログラム・デバッグ・フィクスチャーは、正確で信頼性のある製造用テストプログラム作成の時間短縮に貢献します。 [詳細]