800-550-3279
::
503-601-1000
::
会社案内
製品概要
よくある質問
お問合せ
IR情報
ホーム
>
製品概要
>
プローブ・ステーション
>
極低温プローブ・ステーション
極低温プローブ・ステーション
極低温プローブ・ステーション
関連資料
PAC200 Data Sheet
PLC50 Datasheet
PLC50 System Highlights
PMC200 Data Sheet
A Novel Probe Station for Helium Temperature Measurements (ARFTG 68)
300mm Wafer
200mm Wafer
150mm Wafer
基板測定
パワーデバイス測定
真空プローブ・ステーション
極低温プローブ・ステーション
加圧プローブ・ステーション
4 - 400 Kの温度でのデバイス・テスト
プロービングは標準のウエハー・プローバと同じくらい簡単
特別な基板ホルダーを使った簡単で人間工学的なウェーハ取り扱い
完全な極低温のテストソリューションのための広範なアクセサリ
マニュアル、およびセミオートのラインアップ