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製品概要

製品概要

プローブ

Infinity Probe

オン・ウェーハ、パッケージ、基板レベルでの様々な測定用途に合わせて50種類以上のライン・アップを提供しております。高周波、DC、不良解析、差動、ロードプル、ノイズ測定等のアプリケーション用途のプローブ・ヘッドをご紹介いたします。 [詳細]

プローブ･ステーション

Elite 300 Wafer Probing Station

150mm、200mm、300mm　/　セミオート、マニュアルのラインナップを提供しております。高周波特性、DC/CV測定、高電圧･大電流、温度特性、など様々なアプリケーションに対応したプローバをご紹介いたします。 [詳細]

プローブ・カード

Pyramid Probes

当社独自のメンブレン技術によりミクスドシグナル・デバイスや高周波デバイスのマルチサイトテストが可能です。小さなプローブ痕により、パッド・ダメージを最少に留めることが可能な上、測定の歩留り、測定結果の再現性と信頼性を高め、ROIの向上に貢献します。 [詳細]