製品概要

プローブ

オン・ウェーハ、パッケージ、基板レベルでの様々な測定用途に合わせて50種類以上のライン・アップを提供しております。高周波、DC、不良解析、差動、ロードプル、ノイズ測定等のアプリケーション用途のプローブ・ヘッドをご紹介いたします。

テスト・ソケット

独自の技術によりコンタクトピンを2mm以下にまで短くする事が可能となり、高周波特性に優れたソケットを実現しました。パッケージと同サイズで直接実装可能なソケット(Grypper)は、ソケットをプリント基板に実装するための設計をする必要がない上、デバイスの半田ボールをコンタクト部が挟み込む形で保持することにより蓋は不要となり、開発期間短縮、コスト削減へとつながります。

プローブ・カード

当社独自のメンブレン技術によりミクスドシグナル・デバイスや高周波デバイスのマルチサイトテストが可能です。小さなプローブ痕により、パッド・ダメージを最少に留めることが可能な上、測定の歩留り、測定結果の再現性と信頼性を高め、ROIの向上に貢献します。

プローブ･ステーション

150mm、200mm、300mm　/　セミオート、マニュアルのラインナップを提供しております。高周波特性、DC/CV測定、高電圧･大電流、温度特性、など様々なアプリケーションに対応したプローブ・ステーションをご紹介いたします。

キャリブレーション

WinCal XE　VNA校正用ソフトウェアは、業界随一の豊富な校正手法により正確かつ再現性の高い測定を実現しました。