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30x50umパッド��高精度プロービング

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CM300セミナー(東京)

JSAP理化学・計測機材展
http://www.jsap.or.jp/

ISPSD 2013
http://www.ispsd2013.com/
プローブ修理サービス

カスケード・マイクロテックは、InfinityやACPなどの高周波プローブの修理サービスを提供します。 詳細

How InfinityQuad™ Probes Help DICE Characterize Mixed-Signal Devices with Small Pads

Danube Integrated Circuit Engineering (DICE), a radar IC manufacturer in Austria, makes mmW receiver/transmitter ICs for automotive collision avoidance radar applications. These devices have close to 100 connections surrounding a 5 mm2 die, with up to 25 mixed-signal contacts per side, limiting the size of the pads to 80 μm x 80 μm. Read our case study and learn how DICE overcame testing challenges and reduced test times by 50% using InfinityQuad probes. [Download]

Consistent Parameter Extraction for Advanced RF Devices

Consistent Parameter Extraction for Advanced RF Devices

Pushing device operation frequencies towards the sub-THz range causes serious challenges for conventional device characterization techniques. This application note presents a comparison of SOLT, NIST multiline TRL, and LRRM probe-tip calibration methods for accuracy of measured and extracted figure of merits (FoM) of advanced BiCMOS HBT. A good understanding of possible sources of errors and potential room for improvement at each step are key to increasing the accuracy of device characterization. This paper will show why eLRRM is recommended as an accurate, consistent and easy to implement probe tip calibration method for characterization of advanced high-performance active devices.

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N+1-Port SOLT/SOLR Calibration

N+1-Port SOLT/SOLR Calibration The calibration solution presented in this document is focused on InfinityQuad™ probes, where the probes are assumed in all four quadrants of the device under test (DUT). It is shown that the proposed N+1-port SOLT/SOLR calibration can calibrate an N-port network of the InfinityQuad placed in four quadrants, using a standardized calibration procedure and standard calibration substrates that are commonly available. Although the inconsistency of the delay can cause measurement uncertainty, it is shown that their effects are likely to be minimal in most practical applications.

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測定に必要なアクセサリを含んだ150mmマニュアル・プローバ・パッケージの販売開始

MPS150 Probe System カスケード・マイクロテック社は、IV / CV測定、故障解析、RF、ミリ波、サブテラヘルツのような特定のアプリケーション、さらにパワーデバイスの特性評価をすぐ始められる測定パッケージの提供を開始しました。MPS150マニュアル・プローバと測定に必要なアクセサリを含んだ測定パッケージは、操作者の意図に応えるように最適設計され、セットアップも容易で、購入時の煩雑な部品購入など、運用開始までの時間と導入コストを削減し、快適な測定環境を実現します。  続きを読む…

業界初の全自動ハイパワーデバイス測定システム

APS200TESLA 近年、世界各国の政府機関によって設定された省エネルギーの基準は、パワーデバイスの需要を急速に増加させています。ハイパワーデバイスの需要の増加と低コストのシステムの必要性は、生産に追いつくために、デバイスメーカーに多大な圧力をかけています。パワー•デバイスのメーカーが直面している主要な問題の一つは、パワー•デバイス•テストのスループットの向上です。 APS200TESLA、フルオート・オンウェーハ・プローブ・ステーションは、業界初のハイパワーデバイス専用の製造テスト・システムです。 APS200TESLAは、規格認定された安全なテスト環境を提供しながら、10.5 kV/400 Aまでの生産試験を実現します。 APS200TESLAは、高電力デバイスの製造テスト時に生産性とスループットを向上させ、マージンを増加し、市場投入までの時間を減らすことができます。  続きを読む... 

高精度の微細パッドプロービングを実現するInfinityQuad ™プローブ

InfinityQuadプローブは、30 μm x 50 μm迄の小さなパッド上で、温度制御下での自動測定を可能にするマルチコンタクト・プローブです。DC、ロジック、RFおよびミリ波 RFIC等のデバイス測定の中でも再現性と精密さが求められるエンジニアリング・テストで、InfinityQuadプローブは広い温度範囲(-40℃ ~ 125℃)で110GHzまで信頼性の高い測定結果を保証します。直径約10 μmの小さな接触面積を持つ丈夫なプローブ・チップは、アルミ・パッド上で25万回以上のコンタクトを可能にし、正確なXYZ軸のアライメントを提供します。構成は、RF、Eye-Passパワー、グランド、ロジック端子など、最大25コンタクトの組み合わせにてカスタマイズが可能です。 続きを読む…