RFIC & Functional Test Probes
RFIC & Multicontact
Cascade Microtech 的耐用型高性能多触点探针简化了 RFIC 工程测试。
RF Quadrant Probes
Quadrant 探针是应单个模块中的多探针针尖需求而开发的。其配置包括所有的 RF 或 RF 与 DC 的组合。该 RF 探针运用气动共面技术制成了一种坚固的微波探针，这种微波探针具有一个符合标准的针尖，旨在实现准确、可重复的晶圆上测量。DC 探针采用陶瓷片式针，以实现低噪声和高性能。 [查看更多]
Multi |Z| Probe®
The Multi |Z| Probe® is a new dimension in RF/Microwave multiport and digital signal testing. It uses the same patented technology as other |Z| Probes, but can carry up to 16 RF/Microwave signals on one probe. [查看更多]
用于 RFIC 工程测试的 Unity Probe™ 多触点探针
Cascade Microtech 的 Unity 多触点探针精简了 RFIC 工程测试。按订单生产的 Unity 探针运用了常识性的测试结构设计规则，是一款耐用且可扩展的解决方案，运行速度快，而且易于实现；节省了您的时间和金钱，并免除了您的诸多烦恼。 [查看更多]
Eye-Pass 探针特点
多触点 Eye-Pass 探针提供了受控阻抗电源连接，从而实现了甚至最复杂的晶圆上电路的功能测试。高耐用性复合多指针尖提供了高一致性，并保证了精确的对准。这款定制探针使得用户能够选择最适合应用的焊脚图形，且每个探针头具有多达 12 个触点。可提供的接触类型包括接地、逻辑、标准和 Eye-Pass 电源、电源检测及 AC 信号。 [查看更多]
ProbeWedge™
With a high degree of application flexibility, HF ProbeWedges™, use both RF contacts and DC needles. The variety of available configurations of the HF ProbeWedge ensures your application requirements are met every time. [查看更多]
Multicontact DC Power Probe Series
多触点 DC 电源探针是应单个探针头中的多探针针尖需求而开发的。
DCQ 探针采用受控阻抗、陶瓷片式针，旨在实现低噪声和高性能。这种针结构允许布设具有非常低串联电感的高品质旁路电容器，因为它们很靠近探针针尖。所有的针均被连接至一个公共接地平面，但可容易地对专用针进行（接地）隔离，以实现额外的低噪声性能。最多可提供 16 个针。 [查看更多]
|Z| Probe® Card
The |Z| Probe® Card is the most unique RF production probe card available. It is the only fully-repairable probe card that integrates |Z| Probe Technology into a versatile, production-floor ready probe card format. Since any |Z| Probe can be integrated into the |Z| Probe Card, the possibilities are endless. [查看更多]
