功率器件探针
功率器件探针
Cascade Microtech 的功率器件探针提供了一种面向高达 60A 电流和 3000V 电压条件下的过热、低接触电阻测量的完整晶圆上解决方案。
高电流参数（HCP）探针
对晶圆上的功率器件进行高性能测试，并在较小焊盘上提供了低接触电阻 高电流参数探针专为在晶圆上测试功率器件而设计，通过最大限度地减小晶圆至探针接口上的接触电阻（以避免在针尖上出现器件发热的情况），它降低了探针和器件在高电流条件下所受的损害。这款创新的梳齿式设计将电流分布于针尖上的多个触点，同时采用了一个负责将热量从探针针尖移开的散热器。 [查看更多]
高电压参数(HVP)探针
Cascade Microtech 的高电压参数探针提供了进行同轴测量（在高达 3000V 的电压条件下）和三轴测量（在高达 1100V 的电压条件下）的能力，并保持了一条低噪声测量通路。 HVP 探针是采用能够防止电介质击穿的专有绝缘材料设计制造的，以在高电压（1100V）条件下实现低至 100fA 的低泄漏测量。 [查看更多]
