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集成测量系统

集成系统

优化系统解决了复杂的测量难题

Cascade Microtech 推出的集成系统提供了一种旨在应对复杂测量问题的完整解决方案,这些复杂的测量问题仅靠一批零组件是无法解决的。该集成解决方案的每个部分均进行了优化和细调(以便一起工作),从而实现了适合复杂应用和测量需要的快速而准确的晶圆上数据收集。集成系统基于 Cascade Microtech 的高性能探针台,您将因此而感受到使 Cascade 探针台成为全球客户之首选的易用性和全功能晶圆上探测体验。另外,每款交钥匙型解决方案都包含了您在一个系统中所需的一切,包括多种高度优化的晶圆上探针、测试仪表和布线配置以及软件工具,随时可以运行。

EDGE:全集成化闪烁噪声测量系统

EDGE System Best In Test 2009

EDGE™ 闪烁噪声测量系统是当今世界上仅有的集成、抗噪声测量系统,已证明该系统可在 1Hz 至 30MHz 的频率范围内进行准确的闪烁噪声测量。史无前例的,为器件建模和工艺过程开发进行闪烁噪声测量的研发工程师、技术人员和实验室管理人员能够在极宽频率范围和极低的背景噪声环境中轻而易举地获得闪烁噪声数据。 [查看更多]

Tesla:晶圆上功率器件特性描述系统

Tesla On-Wafer Power Device Characterization System

功率半导体的广泛使用迫切需要对功率器件进行快速而有效的特性描述。Cascade Microtech 的新型 Tesla 晶圆上功率器件特性描述系统满足了这一需求,从而缩短了新型功率器件的面市时间。Tesla 是业界首个功率器件测量系统,它提供了一款用于在高达 60A 的电流和 3000V 的电压条件下进行功率半导体的过热、低接触电阻测量的完整晶圆上解决方案。该新系统采用了两款新型晶圆探针和一种全新的晶圆吸盘技术。 [查看更多]

插件板测试探针台

Board Test System R1000

Cascade Microtech 提供了用于在 IC 封装和电路板上进行信号完整性探测的价格适中且完整的插件板测试解决方案。 [查看更多]