WinCal XE
WinCal XE
相关文件
- WinCal XE Specification Sheet
- Making Accurate and Reliable 4-port On-Wafer Measurement
- A High Isolation Dual Signal Probe Technology
- Solve complexity issues in 4-port RF designs
- Optimized Impedance Standard Substrate Designs for Dual and Differential Applications
- A Hybrid Probe-Tip Calibration for Multiport Vector Network Analyzers
- Validation of On-Wafer Vector Network Analyzer Systems
- VNA Calset Port Augmentation for Impedance Matching Probe Calibration
利用引导型系统设置、自动校准和验证以及其他与 RF 测量相关的高级工具，WinCal XE 提升了 RF 测量准确度和生产能力。
简易、快速和准确的 RF 测量
通过消除系统设置误差、并实现校准和验证的自动化，WinCal XE 的指南和向导保证了可信赖的测量结果。
新型校准算法
WinCal XE 提供了新型"宽容限探测"校准算法，并可确保在多达 4 个端口上进行简易而快速的多端口测量。
快速且简易的数据验证和报告
您可以查看任何格式的数据，而无需对其进行导出或转换。
WinCal XE Version 4.2 的新特点
- 支持可编程探针定位器，从而实现了自动化的 TRL 和 NIST 型多线 TRL 校准
- 第二级校准能力有所改善
- 测量排序（β）实现了实际上不受限制的定制测试排序和仪器控制，旨在实现简单的测试自动化
- 数据报告中的缩放和标记能力有所改善
- 强化的遥控指令
- 简化的高级校准（当在四端口模式中使用外部测试装置 Agilent PNA 系统时）
