ボードテスト、基板測定用プローブ

FPCプローブ

50Ω高周波同軸プローブで低インダクタンスのグランド・コンタクトを1点または2点で供給します。リソグラフィーで配置されたプローブ先端は位置精度が高いため、インピーダンスが制御され、SMTボード、ハイブリッドあるいはMCMの測定で最良のコンタクトを実現します。

FPMプローブ

高密度のマルチチップ･モジュール（MCM）のプロービングに最適です。回路に影響を与えず不安定動作を検出可能です。

FPRプローブ

グランドへの独立したコンタクトにより多様なピッチのプロービングが可能です。最小25um角パッドの高速・高密度ICの特性評価や不良解析に最適です。