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DCパラメトリック・プローブ

DCパラメトリック・プローブ

DCP100シリーズ・プローブホルダ

DCP100

DCP100シリーズ・プローブホルダはオン・ウェーハでのプロセス/デバイス・キャラクタライゼーションや信頼性テストに必要な測定精度を提供します。優れたガード/シールド機構により、非同軸構造のプローブでは実現不可能な性能を実現しています。 [詳細]

DCP-HTRシリーズDCプローブ・ホルダ

DCP HTR Probe

DCP-HTRプローブ・ホルダは、最先端の信頼性テストで要求されるfAレベルの測定能力を-65℃~300℃の範囲で実現します。ユニークなガード/シールドのデザインにより、通常の同軸針の高温での測定限界を克服しています。 [詳細]