DC/CV測定解析用

• SUMMITパラメトリック測定用プローブ・ステーションにより、低電流、低雑音、低キャパシタンス環境での測定が実現可能
• 全温度範囲で雑音と漏れ電流を低減し、より高速・高精度のCV/IV測定が可能

RF/マイクロ波解析用

• SUMMIT RF/マイクロ波測定用プローブ・ステーションは、高精度のデバイス・モデリングと機能試験用の高精度の測定が実現可能
• エア・コプレナ・プローブ、インフィニティー・プローブやインピーダンス基準基板と組み合わせ、110GHzまでの高周波オン・ウェーハ測定が可能