ボードテスト、基板測定用プローブ

ボードテスト/基板測定

|Z|プローブPCB

プリント基板用|Z|プローブPCBは、コスト高なテスト･フィクチャーに代わる低価格なコンタクト方法で量産テストに最適です。革新的なプレーナ・プレーナ先端構造は、プリント基板、IC及びセラミック基板に対して非常に精確で安全なコンタクトを可能にしました。周波数帯域は標準で4GHzまで、特注品は20GHzまで対応可能です。完全50Ω整合された空気絶縁マイクロ波伝送路は最少の挿入損失を示します。 [詳細]

FPCプローブ

50Ω高周波同軸プローブで低インダクタンスのグランド・コンタクトを1点または2点で供給します。リソグラフィーで配置されたプローブ先端は位置精度が高いため、インピーダンスが制御され、SMTボード、ハイブリッドあるいはMCMの測定で最良のコンタクトを実現します。 [詳細]

FPMプローブ

高密度のマルチチップ･モジュール（MCM）のプロービングに最適です。回路に影響を与えず不安定動作を検出可能です。 [詳細]

FPRプローブ

グランドへの独立したコンタクトにより多様なピッチのプロービングが可能です。最小25um角パッドの高速・高密度ICの特性評価や不良解析に最適です。 [詳細]